Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen niederdimensionaler Halbleiter zur Charakterisierung von Struktur und chemischer Zusammensetzung

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Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2007

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1. http://d-nb.info/987476491/04

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/244009932
Date	January 2007
Creators	Häusler, Ines
Publisher	Berlin mbv
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German