Return to search

Analyse des défauts et des propriétés électroniques du SiC-4H par voie optique

Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2004. / Titre provenant de l'écran-titre. Réf. bibliogr. à la fin de chaque chapitre.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/492476070
Date January 2005
CreatorsHida-El Harrouni, Ilham Guillot, Gérard Bluet, Jean-Marie.
PublisherVilleurbanne : Doc'INSA,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

Page generated in 0.0016 seconds