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Echtzeitanalyse des photoinduzierten Wachstums von Siliziumoxid mittels spektroskopischer Ellipsometrie und FTIR-Spektroskopie

Universiẗat, Diss., 2004--Heidelberg.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/179720325
CreatorsPatzner, Patrik.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.

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