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Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber
Description
Kassel, Universiẗat, Diss., 2001.
Links & Downloads
http://d-nb.info/988293269/34
http://kobra.bibliothek.uni-kassel.de/bitstream/urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777/3/DissertationAlexanderGerlach.pdf
Tags
Additional Fields
Identifer
oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/244073062
Creators
Gerlach, Alexander.
Source Sets
OCLC
Language
German
Detected Language
German
Source
kostenfrei
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