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Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche

Résumé => Voir Pdf (2ème pièce jointe), pages 121-123

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:pastel.archives-ouvertes.fr:pastel-00550696
Date29 June 1993
CreatorsGleyzes, Philippe
PublisherUniversité Paris Sud - Paris XI
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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