Return to search

Classification of incorrectly picked components using Convolutional Neural Networks

Printed circuit boards used in most ordinary electrical devices are usually equipped through an assembly line. Pick and place machines as part of those lines require accurate detection of incorrectly picked components, and this is commonly performed via image analysis. The goal of this project is to investigate if we can achieve state-of-the-art performance in an industrial quality assurance task through the application of artificial neural networks. Experiments regarding different network architectures and data modifications are conducted to achieve precise image classification. Although the classification rates do not surpass or equal the rates of the existing vision-based detection system, there remains great potential in the deployment of a machine-learning-based algorithm into pick and place machines. / Tryckta kretskort som används i de flesta vanliga elektroniska produkter är vanligtvis monterade i monteringslinjer. Ytmonteringsmaskinerna i dessa monteringslinjer kräver exakt detektering av felaktigt plockade komponenter, vilket ofta genomförs med hjälp av bildanalys. Målet med detta projekt är att undersöka om vi kan uppnå framstående resultat i en industriell kvalitetssäkringsuppgift genom användandet av artificiella neuronnätverk. Experiment utförs med olika nätverksarkitekturer och datamodifikationer för att uppnå exakt bildklassificering.  Även om klassificeringsgraderna inte uppnår klassificeringsgraderna hos existerande synbaserade detekteringssystem, finns en stor potential för användandet av maskininlärningsbaserade algoritmer i ytmonteringsmaskiner.

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:kth-230732
Date January 2018
CreatorsKolibacz, Eric
PublisherKTH, Robotik, perception och lärande, RPL
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageEnglish
Detected LanguageSwedish
TypeStudent thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text
Formatapplication/pdf
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
RelationTRITA-EECS-EX ; 2018:316

Page generated in 0.0062 seconds