Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico / Neste trabalho, foram investigadas as correlações entre a estrutura e as propriedades
magnéticas principalmente à existência de anisotropia magnética perpendicular - de filmes
policristalinos de Fe-Ni depositados sobre substrato de Si por pulverização catódica DC, em
uma ampla faixa de concentração (de Fe15Ni85 até Fe80Ni20). Estudamos a influência de
diferentes condições de preparação (espessura, distância alvo-substrato e temperatura do
substrato) na estrutura e na textura magnética dos filmes.
A composição dos filmes foi determinada por espectroscopia de fluorescência de raios x
(EDS). Utilizando a difração de raios x em ângulo rasante (GIXRD), determinamos a
estrutura cristalina das amostras. A espectroscopia Mössbauer de 57Fe foi empregada para a
determinação das propriedades estruturais e magnéticas, e o efeito Kerr magneto-óptico
(MOKE) foi utilizado como técnica adicional na obtenção de informações magnéticas sobre
os filmes preparados.
Nossos resultados demonstraram que, nas condições de crescimento dos filmes aqui
empregadas, foi possível se obter filmes com uma forte anisotropia magnética perpendicular
(inclinação média dos spins Fe de 25 em relação à normal) para toda a faixa de concentração
e de espessura exploradas. Significante redução na textura magnética perpendicular só foi
observada em filmes crescidos a altas temperaturas do substrato (~ 500 C). / A study of the correlation between magnetic and structural properties of FeNi thin films has
been made focused on the perpendicular magnetic anisotropy exhibited by these films. The
influence that different growth conditions, such as film thickness, target-substrate distance,
and substrate temperature have on the structure and on the magnetic texture of FeNi films has
been investigated.
Polycrystalline FexNi1-x thin films were grown on Si substrates by DC sputtering within a
wide range of concentration (15 x 80). The stoichiometric composition was determined
by X ray fluorescence spectroscopy (EDS), and the crystalline structure was studied by
grazing incidence X ray diffraction (GIXRD). 57Fe Conversion Electron Mossbauer
spectroscopy (CEMS) was used to determine both structural and magnetic properties, and
magneto-optic Kerr effect magnetometry (MOKE) was used for magnetic characterization of
the investigated thin films.
The obtained results show that it has been possible to obtain FexNi1-x thin films with a strong
perpendicular magnetic anisotropy, with an average deviation of 25 from the normal to the
sample surface, for all the concentration range and thicknesses studied. Only films grown at
high substrate temperatures (~500 C) exhibited a significant reduction on the perpendicular
magnetic anisotropy.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:bdtd.cdtn.br:112 |
| Date | 28 February 2011 |
| Creators | Mario da Silva Araújo Filho |
| Contributors | Waldemar Augusto de Almeida Macedo, Maximiliano Delany Martins, Roberto Magalhães Paniago |
| Publisher | CNEN - Centro de Desenvolvimento da Tecnologia Nuclear, Belo Horizonte, CTMA - Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia das Radiações, Minerais e Materiais, CDTN, BR |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações do CDTN, instname:Centro de Desenvolvimento da Tecnologia Nuclear, instacron:CDTN |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Page generated in 0.0019 seconds