Integration einer gesteurten [i.e. gesteuerten] Elektronenquelle in eine Silizium-Rastermikroskop-Sonde

Description

Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2004. / Computerdatei im Fernzugriff ; das Oeffnen des Links kann einige Minuten dauern, da es sich um eine relativ grosse Datei handelt (69,4 MB).

Links & Downloads

1. http://miami.uni-muenster.de/servlets/DocumentServlet?id=1826
2. http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?idn=972017461
3. http://miami.uni-muenster.de/servlets/DerivateServlet/Derivate-1835/Dissertation_M_Schaefer_2004.pdf
4. http://miami.uni-muenster.de/resolver/urn:nbn:de:hbz:6-88699645441
5. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=972017461

Tags

Rastermikroskop

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/637395603
Date	January 2004
Creators	Schäfer, Marcus.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	Undetermined
Detected Language	German