Orientador: Jose Antonio Siqueira Dias / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica / Made available in DSpace on 2018-07-20T16:05:22Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1995 / Resumo: Foram fabricadas amostras de cerâmicas semicondutoras MnNiCuFeO e estudadas as suas propriedades elétricas antes e depois da implantação de íons do tipo B, P, e Si seguida de recozimento térmico. A estrutura das amostras foi analisada com um medidor de refração de raio-X e com microscópico eletrônico de varredura. As propriedades elétricas das amostras são medidas antes e após a implantação dos íons, utilizando microonda elétrica, analisador de impedância de baixas freqüências, e sonda de resistência de espalhamento (spreading resistance). ... Observação: O resumo, na íntegra, poderá ser visualizado no texto completo da tese digital / Mestrado / Eletronica e Comunicações / Mestre em Engenharia Elétrica
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/259326 |
| Date | 31 July 1995 |
| Creators | Li, Bin Bin |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Dias, José Antonio Siqueira, 1954-, Braga, Edmundo da Silva, Lebedey, Serguei Vladimirovich |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 1v. (varias paginações) : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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