Entwicklung eines neuartigen elektrischen Rasterkraftmikroskopie-Tests zur quantitativen Bestimmung von Gleich- und Wechselspannungen bis über 100 GHz in integrierten mikroelektronischen Schaltungen /

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Univ.-Gesamthochsch., Diss.--Duisburg, 2000.

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1. http://www.gbv.de/dms/bs/toc/320212181.pdf

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/248713028
Date	January 2000
Creators	Wittpahl, Volker.
Publisher	Düsseldorf : VDI-Verl.,
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German