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Die Soft-Error-Rate von Submikrometer-CMOS-Logikschaltungen

Techn. Universiẗat, Diss., 2003--Berlin.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/175173526
CreatorsJuhnke, Thomas.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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