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Previous issue date: 2009 / A busca por novas funcionalidades no que diz respeito a melhoria da
confiabilidade dos sistemas eletrônicos e também a necessidade de gerir
o tempo gasto durante o teste faz do mecanismo Built-in-Self-Test (BIST)
um característica promissora a ser integrada no fluxo atual de
desenvolvimento de Circuitos Integrados (IC). Existem vários tipos de
BIST: Memories BIST, Logical BIST (LBIST) e também alguns
mecanismos usados para teste as partes analógicas do circuito. O LBIST
tradicional usa um hardware on-chip para gerar todos os padrões de teste
com um gerador pseudo aleatório (PRPG) e analisa a assinatura de saída
gerada por um registrador de assinatura de múltipla entradas (MISR).
Essa abordagem requer a inserção de pontos de teste extras or
armazenagem de informação fora do chip que tornará possível alcançar
uma cobertura de teste > 98%. Também a geração de todos os estímulos
de teste implica no sacrifício no tempo aplicação do teste, o qual pode ser
aceitável para pequenos sistemas executarem auto-teste durante a
inicialização do sistema mas pode tornasse um aspecto negativo quando
testando System-on-chip (SOC) ICs. O fluxo corrente de desenvolvimento
de um IC insere scan chains e gera automaticamente padrões de teste de
scan para alcançar uma alta cobertura para o teste de manufatura.
Técnicas de compressão de dados provaram ser muito úteis para reduzir
o custo de teste enquanto reduzem o volume de dados e o tempo de
aplicação dos testes. Esse trabalho propõe o reuso de padrões de teste
comprimidos usados durante o teste de manufatura para implementar um
LBIST com objetivo de testar o circuito quando ele já está em campo. O
mecanismo LBIST proposto objetiva descobrir defeitos que podem ocorrer
devido ao desgasto do circuito. Uma arquitetura e um fluxo de
desenvolvimento semi-automático do mecanísmo LBIST baseado em
padrões de teste de scan são propostos e validados usando um SoC real
como caso de teste
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufpe.br:123456789/1831 |
| Date | 31 January 2009 |
| Creators | José Costa Alves, Diogo |
| Contributors | Natividade da Silva Barros, Edna |
| Publisher | Universidade Federal de Pernambuco |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | English |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFPE, instname:Universidade Federal de Pernambuco, instacron:UFPE |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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