Return to search

Étude du silicium amorphe hydrogéné et de ses dérivés nitrurés : application à la réalisation de capteurs d'images.

Th. doct.-ing.--Microélectron.--Grenoble--I.N.P.G., 1984. N°: DI 447.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/465090864
Date January 1900
CreatorsChaussat, Christophe,
Publisher[S.l. : s.n.,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

Page generated in 0.0015 seconds