Return to search

Hochauflösende Strukturierung von Siliziumoberflächen mittels Mikrokontaktdruck-Technik untersucht mit Rasterkraftmikroskopie

Ulm, Univ. Diss., 2006.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/315795750
Date January 2006
CreatorsBarth, Peter,
Publisher[S.l. : s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.
SourceKostenfrei

Page generated in 0.0019 seconds