Analytik von Kontaminationen auf Siliciumoberflächen Möglichkeiten und Grenzen des VPD-Verfahrens /

Description

Frankfurt (Main), Univ., Diss., 2004. / Computerdatei im Fernzugriff.

Links & Downloads

1. http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/volltexte/2005/940/index.html
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=975196367

Tags

Silicium

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/637452390
Date	January 1900
Creators	Metz, Steffen.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	Undetermined
Detected Language	German