Return to search

ANALYSE DES DEFAUTS INDUITS PAR IRRADIATIONS IONISANTE ET A EFFETS DE DEPLACEMENT DANS DES STRUCTURES MCT (MOS CONTROLLED THYRISTOR) A PARTIR DE MESURES ELECTRIQUES ET PAR SIMULATION /

Thè€se de doctorat : SCIENCES ET TECHNIQUES : Metz : 1999. / 1999METZ030S. 60 ref.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/490696075
Date January 1999
CreatorsHaddi, Ahmed. Charles, Jean-Pierre.
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageEnglish

Page generated in 0.0019 seconds