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Analyses quantitatives par SIMS dans le mode secondaire négatif

Thèse de doctorat : Science et ingénierie des matériaux : Vandoeuvre-les-Nancy, INPL : 2005. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/491633310
Date January 2005
CreatorsPhilipp, Patrick Scherrer, Hubert.
PublisherVandoeuvre-les-Nancy : INPL,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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