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Capteurs embarqués non-intrusifs pour le test des circuits RF

Cette thèse vise l'étude de techniques de type BIST pour un front-end RF, considérant des nouveaux types des capteurs intégrés très simples pour l'extraction de signaux. Ces signaux et les stimuli de test associés seront par la suite traités par des algorithmes de l'apprentissage automatique qui devront permettre une prédiction des performances des différents blocs du système. Une évaluation des capteur proposés en tant que métriques de test paramétrique et couverture des fautes catastrophique sera nécessaire pour pouvoir aboutir à des techniques de test à bas coût pour le test de production, permettant une réduction importante du coût de revient des produits.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-01062479
Date22 October 2012
CreatorsAbdallah, Louay
PublisherUniversité de Grenoble
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
Languagefra
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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