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Traitement d'images en analyse de défaillances de circuits intégrés par faisceau d'électrons

Reproduction de : Thèse de doctorat : Microelectronique : Grenoble, INPG : 1991. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 243-250.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/493840454
Date January 2008
CreatorsConard, Didier. Courtois, Bernard Courtois, Bernard
PublisherS.l. : Université Grenoble 1,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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