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Génération de test de circuits intégrés fondée sur des modèles fonctionnels

Reproduction de : Thèse de doctorat : Signal Image Parole : Grenoble, INPG : 1991. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 141-150.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/493931018
Date January 2008
CreatorsKaram, Margot. Saucier, Gabrièle. Mossière, Jacques. Landrault, Christian. Courtois, Bernard Costes, Alain
PublisherS.l. : Université Grenoble 1,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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