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Thermospannung in der Rastertunnelmikroskopie Untersuchungen an homogenen und heterogenen Metall- und Halbleiteroberflächen /

Universiẗat, Diss., 2000--Essen.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/614941547
CreatorsSeifritz, Jörg.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.

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