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Avaliação da influência da evolução das tecnologias de fabricação de nanofios transistores MOS sobre suas características elétricas/

Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário FEI, São Bernardo do Campo, 2018

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:sofia.fei.edu.br:perga-oai/129890
Date January 2018
CreatorsPaz, B. C.
ContributorsPavanello, M. A.
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
Sourcereponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI, instname:Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana, instacron:FEI
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
RelationDisponível também em versão on-line

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