CARACTERISATION DE STRUCTURES MOS SUBMICRONIQUES ET ANALYSE DE DEFAUTS INDUITS PAR IRRADIATION GAMMA. EXTRAPOLATION AUX DEFAUTS INDUITS DANS LES OXYDES DE CHAMP DES TRANSISTORS BIPOLAIRES /

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Thèse de doctorat : SCIENCES ET TECHNIQUES : Metz : 1999. / 1999METZ034S. 49 ref.

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1. ftp://ftp.scd.univ-metz.fr/pub/Theses/1999/Bakhtiar.Hazri.SMZ9934.pdf

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/490696043
Date	January 1999
Creators	Bakhtiar, Hazri. CHARLES, JEAN PIERRE..
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	German