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Van der Waals-terminierte Silizium (111) Oberflächen und Grenzflächen Präparation, Morphologie und elektronische Eigenschaften

Techn. Univ., Diss., 2004--Darmstadt

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/179763324
CreatorsFritsche, Rainer
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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