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Previous issue date: 2009 / A crescente demanda por produtos eletrônicos e a capacidade cada vez maior de integração
criaram sistemas extremamente complexos em chips, conhecidos como Systemon-
Chip ou SoC. Seguindo em sentido oposto a esta tendência, os prazos (time-to-market)
para que estes sistemas sejam construídos vem continuamente sendo reduzidos, obrigando
que muito mais funcionalidades sejam implementadas em períodos cada vez
menores de tempo. A necessidade de um maior controle de qualidade do produto
final demanda a atividade de Verificação Funcional que consiste em utilizar um conjuntos
de técnicas para estimular o sistema em busca de falhas. Esta atividade é a extremamente
dispendiosa e necessária, consumindo até cerca de 80% do custo final do
produto. É neste contexto que se insere este trabalho, propondo uma metodologia de
Verificação Funcional chamada IVM que irá fornecer todos os subsídios para garantir
a entrega de sistemas de alta qualidade, e ainda atingindo as rígidas restrições temporais
impostas pelo mercado. Sendo baseado em metodologias já bastante difundidas
e acreditadas, como o OVM e o VeriSC, o IVM definiu uma organização arquitetural e
um fluxo de atividades que incorporou as principais características de ambas as abordagens
que antes estavam disjuntas. Esta integração de técnicas e conceitos resulta em
um fluxo de verificação mais eficiente, permitindo que sistemas atinjam o custo, prazo
e qualidade esperados
Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufpe.br:123456789/1780 |
Date | 31 January 2009 |
Creators | Otávio Piedade Prado, Bruno |
Contributors | Natividade da Silva Barros, Edna |
Publisher | Universidade Federal de Pernambuco |
Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
Language | Portuguese |
Detected Language | Portuguese |
Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
Source | reponame:Repositório Institucional da UFPE, instname:Universidade Federal de Pernambuco, instacron:UFPE |
Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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