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Grenzflächenverhalten und Morphologie des ZnO/Si-Heterokontaktes eine Photoemissionsstudie /

Brandenburgische Techn. Universiẗat, Diss., 2004--Cottbus.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/615078038
CreatorsMeier, Ulrich.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.

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