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Optische Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Oberflächen in Kombination mit 1st principles Rechnungen

Würzburg, Univ., Diss., 2003. / Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003. Computerdatei im Fernzugriff.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/637386452
Date January 1900
CreatorsWagner, Joachim.
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageUndetermined
Detected LanguageGerman

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