ANALYSE DES DEFAUTS INDUITS PAR IRRADIATIONS IONISANTE ET A EFFETS DE DEPLACEMENT DANS DES STRUCTURES MCT (MOS CONTROLLED THYRISTOR) A PARTIR DE MESURES ELECTRIQUES ET PAR SIMULATION /

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Thèse de doctorat : SCIENCES ET TECHNIQUES : Metz : 1999. / 1999METZ030S. 60 ref.

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1. ftp://ftp.scd.univ-metz.fr/pub/Theses/1999/Haddi.Ahmed.SMZ9930.pdf

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/490696075
Date	January 1999
Creators	Haddi, Ahmed. Charles, Jean-Pierre.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	English