Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen von II-VI-Verbindungshalbleitern unterschiedlicher Dimensionierung

Description

Berlin, Humboldt-Universiẗat, Diss., 2000.

Links & Downloads

1. http://dochost.rz.hu-berlin.de/dissertationen/kirmse-holm-2000-12-20/PDF/Kirmse.pdf
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=962717835

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76315475
Date	January 2000
Creators	Kirmse, Holm.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German