Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories / Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles

Description

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1. http://www.theses.fr/2012GRENT118/document

Tags

TCAD

Mémoire embarquée

Injection

Porteurs chauds

Monte Carlo

Tunneling dégradation

TCAD

Embedded memory

Injection

Hot carriers

Monte Carlo

Tunneling degradation

620

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:theses.fr/2012GRENT118
Date	23 January 2012
Creators	Zaka, Alban
Contributors	Grenoble, Pananakakis, Georges
Source Sets	Dépôt national des thèses électroniques françaises
Language	English
Detected Language	French
Type	Electronic Thesis or Dissertation, Text