Direkte Bestimmung von Eisenspuren in Dichlorsilan mit Hilfe der Graphitrohrofen-Atomabsorptionsspektrometrie (GF-AAS)

Description

Duisburg, Essen, Universiẗat, Diss., 2004.

Links & Downloads

1. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=970781245
2. http://www.ub.uni-duisburg.de/ETD-db/theses/available/duett-03092004-203014/unrestricted/benninghoffdiss.pdf
3. http://www.ub.uni-duisburg.de/ETD-db/theses/available/duett-03092004-203014/

Tags

Dichlorsilan Halbleiterindustrie

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76484173
Date	January 2004
Creators	Benninghoff, Claus.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Source	LF