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Ab-initio-Berechnung elektrischer Eigenschaften von Dielektrika für neuartige Gate-Isolator-Schichtsyteme zukünftiger MOSFETs

Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2009

  1. http://d-nb.info/1000285391/04
Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/648766898
Date January 2009
CreatorsPlänitz, Philipp
Publisher[Auerbach /Vogtl.] Verl. Wiss. Scripten
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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