Made available in DSpace on 2014-06-12T23:16:10Z (GMT). No. of bitstreams: 2
arquivo8647_1.pdf: 8160673 bytes, checksum: 12d10551e46fdf8c96294a4c26e0dfdc (MD5)
license.txt: 1748 bytes, checksum: 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 (MD5)
Previous issue date: 2008 / Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico / A sensibilização da resposta termoluminescente (TL) do quartzo natural foi muito
estudada visando a datação arqueológica e a dosimetria retrospectiva. Embora a curva de
emissão TL do quartzo apresente vários picos, apenas a sensibilização do pico que ocorre a
aproximadamente 100°C foi investigada em profundidade. Trabalhos recentes mostraram que
a sensibilização TL do pico a 300°C ocorre apenas quando altas doses de radiação gama são
administradas em cristais naturais cujas concentrações relativas de impurezas Li/Al e Li/OH
são elevadas. Observou-se também que a sensibilização depende da intensidade de dose
utilizada. Entretanto, poucas medidas foram realizadas no intervalo que antecede 50 kGy.
Além disso, não foi esclarecido como os tratamentos térmicos podem influenciar a
sensibilidade TL do quartzo. Portanto, o objetivo deste trabalho é estudar a sensibilização da
resposta TL do quartzo natural por tratamentos térmicos e altas doses de radiação gama. Para
isto, foram extraídos cinqüenta e cinco discos com 6x1 mm2 de um bloco procedente de
Solonópole (CE). Os discos foram separados em seis lotes de acordo com a proximidade da
resposta TL entre 160°C e 320°C. Um dos lotes foi submetido à doses de radiação (60Co) a
partir de 2 kGy, chegando a uma dose acumulada de 50 kGy. Outros três lotes foram
inicialmente tratados a 500°C, 800°C e 1000°C e posteriormente irradiados com duas doses
de 25 kGy. As curvas de emissão e as curvas de calibração, para dose-teste de 0,1 a 30 mGy,
foram obtidas após cada procedimento de sensibilização. Amostras retangulares de
10x10 mm2 foram utilizadas para caracterizar os defeitos pontuais relacionados às impurezas
de Al e OH em função dos procedimentos de sensibilização. O centro [AlO4]° foi
caracterizado por espectroscopia no UV-VIS e os centros [AlO4/H+]°, [H4O4]° e Li-OH, por
espectroscopia infravermelho. Como resultado, foi observado que o material em sua condição
natural apresenta um pico a 325°C, mas este possui baixa intensidade TL. Os tratamentos
térmicos não sensibilizam o pico a 300°C, o que ocorre somente após a administração de
doses acima de 2 kGy. Utilizando apenas altas doses, observou-se que a sensibilidade TL
aumenta até 15 kGy. Acima desta dose, a sensibilidade TL praticamente não se modifica.
Observou-se que a concentração do centro [AlO4]°, que atua como centro de recombinação,
aumenta em função da dose acumulada, mesmo para doses acima de 15 kGy. Portanto,
concluiu-se que a estabilização da sensibilidade TL está relacionada à quantidade de
armadilhas de elétrons. Por outro lado, observou-se que o íon Li+ é dissociado do centro
Li-OH por irradiação e tratamentos térmicos. Verificou-se ainda que para doses acumuladas
acima de 15 kGy, acompanhadas de três tratamentos a 400°C, o centro Li-OH não se restitui
por completo. Desta forma, foi sugerido que os íons Li+ formam armadilhas competidoras. O
aumento da concentração de armadilhas competidoras pode explicar a estabilização da
sensibilidade TL acima de 15 kGy. Verificou-se que o procedimento de sensibilização mais
adequado para este cristal envolve um tratamento a 1000°C, dose de 25 kGy e três
tratamentos térmicos a 400°C
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufpe.br:123456789/9790 |
| Date | 31 January 2008 |
| Creators | SOUZA, Leonardo Bruno Ferreira de |
| Contributors | GUZZO, Pedro Luiz |
| Publisher | Universidade Federal de Pernambuco |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFPE, instname:Universidade Federal de Pernambuco, instacron:UFPE |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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