Analyse de défaillances de circuits VLSI par testeur à faisceau d'électrons

Description

Reproduction de : Thèse de doctorat : microélectronique : Grenoble, INPG : 1990. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 181-184.

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1. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00337865

Tags

Thèses et écrits académiques.

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/493556800
Date	January 2008
Creators	Savart, Denis. Courtois, Bernard
Publisher	S.l. : Université Grenoble 1,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French