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Entwicklung einer Methodik zur Erfassung randschichtnaher Eigenspannungsverteilungen s(z) [sigma(z)] in polykristallinen Werkstoffen mittgels energiedispersiver Diffraktion /

Zugl.: Kassel, Universiẗat, Diss., 2008.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/281195004
Date January 2008
CreatorsDenks, Ingwer Asmus.
PublisherKassel : Kassel Univ. Press,
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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