Synthèses sur le test aléatoire de mémoire RAM. Étude des problèmes liés à la détection des pannes. Modèle de pannes, et calcul des longueurs de séquence de test nécessaire à leur détection. Nouveaux modèles pour le problème des pannes multiples. Méthodologie de diagnostic basée sur les expériences de test aléatoire dont le séquencement est donné sous forme d'algorithme. Cahier des charges d'une machine de test pour mettre en œuvre ces résultats
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00322092 |
| Date | 16 December 1986 |
| Creators | Fuentes, Antoine |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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