Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise

Description

Orientador: Peter Jurgen Tatsch / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica / Made available in DSpace on 2018-07-16T01:06:39Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1992 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Mestre em Engenharia Elétrica

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1. (Broch.)
2. RAEDER, Gilson de Lima. Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise. 1992. 120f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/259740>. Acesso em: 15 jul. 2018.
3. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/259740

Tags

Confiabilidade

Falha de sistema (Engenharia)

Engenharia elétrica

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/259740
Date	21 September 1992
Creators	Raeder, Gilson de Lima
Contributors	UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Tatsch, Peter Jürgen, 1949-
Publisher	[s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
Source Sets	IBICT Brazilian ETDs
Language	Portuguese
Detected Language	Portuguese
Type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Format	120f. : il., application/pdf
Source	reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP
Rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
Relation	(Publicação FEE)