Defect-Engineering - kontrollierte Einflussnahme auf anwendungsbezogene Defekte in SI-LEC-GaAs unter Berücksichtigung von für Bauelemente relevanten Substratparametern

Description

Freiberg, Techn. Universiẗat, Diss., 2001.

Links & Downloads

1. https://fridolin.tu-freiberg.de/archiv/pdf/PhysikSteineggerThomas897348.pdf
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=965045684

Tags

Galliumarsenid

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76384517
Date	January 2001
Creators	Steinegger, Thomas.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German