Elektrische Charakterisierung von Störstellen in den III-V-Halbleitern GaAs und GaN mittels Radiotracer-Spektroskopie

Description

Universiẗat, Diss., 2004--Jena.

Links & Downloads

1. http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?name=FSU_Jena_Albrecht_Fanny
2. http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?idn=973608188
3. http://www.db-thueringen.de/servlets/DerivateServlet/Derivate-3854/albrecht.pdf

Tags

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/179708002
Creators	Albrecht, Fanny.
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Type	Online-Publikation.