Rastersondenmikroskopische Untersuchungen an Halbleiterdünnschichten aus VO2, ITO und GaN

Description

Giessen, Universiẗat, Diss., 2000.

Links & Downloads

1. http://bibd.uni-giessen.de/gdoc/2000/uni/d000063.pdf
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=959936858

Tags

Galliumnitrid Vanadiumdioxid Indiumoxide

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76192907
Date	January 2000
Creators	Köhler, Ingo.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German