Détection de défauts en radiographie industrielle : approches multiéchelles /

Description

Th. doct.--Signal et images--Paris--ENST, 1995. / Bibliogr., 8 p. Résumé en français et en anglais.

Links & Downloads

1. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb358217330

Tags

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/463818880
Date	January 1995
Creators	Lefèvre, Mireille,
Publisher	Paris : École nationale supérieure des télécommunications,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French