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Modélisation de la formation de traces dues au ralentissement électronique des ions lourds rapides dans les matériaux métalliques et études expérimentales dans le bismuth /

Th. univ.--Sci.--Caen, 1992. / Bibliogr. p. 81-86. Résumé en français et en anglais.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/463739590
Date January 1993
CreatorsDufour, Christian,
PublisherGif-sur-Yvette : Commissariat à l'énergie atomique,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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