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Simulationsgestützte Oberflächendiagnostik mittels Speckle-Interferometrie

München, Techn. Univ., Diss., 2002. / Computerdatei im Fernzugriff.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/638383554
Date January 2002
CreatorsEvanschitzky, Peter.
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageUndetermined
Detected LanguageGerman

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