Nesse trabalho, apresentaremos o método econômico desenvolvido por Taguchi para monitoramento on line da qualidade para atributos. O propósito deste método é obter o intervalo de inspeção que minimiza o custo esperado por item produzido em um processo industrial. Em seguida, mostraremos o modelo alternativo proposto por Nayebpour e Woodall (1993) e a derivação dos estimadores de máxima verossimilhança e de Bayes desenvolvida por Borges, Esteves e Wechsler (2005). Finalmente, apresentaremos uma nova solução para o problema de determinação do intervalo de inspeção ótimo sob a perspectiva da Teoria de Decisão Bayesiana. A última solução será ilustrada com alguns exemplos. / In this work, we present Taguchi\'s economic on line quality monitoring method for attributes. The aim of this method is to obtain the inspection interval that minimizes the expected cost per item produced in an industrial process. After that, we will consider the alternative method proposed by Nayebpour e Woodall (1993) and the derivation of the maximum likelihood and Bayes estimators developed by Borges, Esteves e Wechsler (2005). Finally, we will propose a new solution to the problem of inspection interval determination through Bayesian Decision Theory. This last solution will be implemented and its performance will be illustrated with a few examples.
Identifer | oai:union.ndltd.org:usp.br/oai:teses.usp.br:tde-12082008-205637 |
Date | 12 May 2008 |
Creators | Ramos, Leyla Costa |
Contributors | Esteves, Luís Gustavo |
Publisher | Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP |
Source Sets | Universidade de São Paulo |
Language | Portuguese |
Detected Language | English |
Type | Dissertação de Mestrado |
Format | application/pdf |
Rights | Liberar o conteúdo para acesso público. |
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