Fatigue behavior of sub-micron silver and copper films

Description

Zugl.: Stuttgart, University, Diss., 2001.

Links & Downloads

1. http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/pdf/dissertation.pdf
2. http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/index.html
3. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=964216345

Tags

Mikrosystemtechnik Kupfer

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76305422
Date	January 2002
Creators	Schwaiger, Ruth.
Publisher	Stuttgart : Max-Planck-Inst. für Metallforschung,
Source Sets	OCLC
Language	English
Detected Language	English