Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber

Description

Kassel, Universiẗat, Diss., 2001.

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1. http://d-nb.info/988293269/34
2. http://kobra.bibliothek.uni-kassel.de/bitstream/urn:nbn:de:hebis:34-2007112819777/3/DissertationAlexanderGerlach.pdf

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/244073062
Creators	Gerlach, Alexander.
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Source	kostenfrei