Avant d'approvisionner des lots de composants pour la fabrication de systèmes orbitaux, les grandes agences du spatial (CNES, ESA, NASA, JAXA…) ainsi que les industriels du spatial (EADS, Thales,…) doivent s'assurer de la fiabilité des lots proposés par les fabricants de circuits intégrés. Dans le but d'assurer la fiabilité des composants, des tests sont réalisés suivant des recommandations afin de sélectionner et trier les composants suivant leur tenue à différents modes de défaillance. Parmi tous ces tests, certains sont typiques des applications spatiales : les tests de tenue à la dose. Cette spécificité des tests de tenue à la dose de composants destinés à des applications spatiales est due au fait que l'environnement spatial est un environnement radiatif qui provoque une ionisation dans les matériaux constituant le satellite. Suite à cette ionisation des charges sont créées dans la matière et induisent des modifications au sein des matériaux qui composent les circuits intégrés, ce qui peut provoquer des dérives de leurs caractéristiques électriques. Ces dérives des paramètres électriques en environnement spatial peuvent être perçues comme un vieillissement accéléré des composants électroniques, et des tests sont donc dédiés à prédire et s'assurer du bon fonctionnement des composants même après ce vieillissement accéléré provoqué par la dose. Dans ce travail de thèse nous nous intéressons à l'applicabilité d'une technique de test accéléré des composants bipolaires développée à l'UM2: 'La technique des Débits Commutés'. Une étude de l'effet de la polarisation pendant irradiation a été mené au cours de ce travail de thèse, afin d'appréhender l'impact de la polarisation des composants bipolaires sur les estimations obtenues de façon accélérée grâce à cette technique. / Before supplying lots of components for the manufacture of orbital systems, large space agencies (CNES, ESA, NASA, JAXA ...) and the Industrial Space (EADS, Thales, ...) should ensure the reliability lots offered by manufacturers of integrated circuits. In order to ensure reliability of components, tests are performed following recommendations to select and sort the components according to their resistance to different failure modes. Of all these tests, some are typical for space applications: tests held in the dose. The specificity of the tests held at the dose of components for space applications due to the fact that the environment is a space radiation environment which causes ionization in the materials of the satellite. Following this ionization charges are created in the material and induce changes in the materials that comprise integrated circuits, which can cause drift of their electrical characteristics. These abuses of the electrical parameters in a space environment can be viewed as accelerated aging of electronic components, and tests are dedicated to predict and verify the correct operation of the components even after the accelerated aging caused by dose. In this thesis we investigate the applicability of a technique for accelerated testing of components developed in bipolar UM2: 'The technique of Switched Flows'. A study of the effect of the polarization during irradiation was conducted during this thesis, to understand the impact of the polarization of the bipolar components on the estimates obtained in an accelerated manner using this technique.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:theses.fr/2010MON20192 |
| Date | 13 December 2010 |
| Creators | González, Yago |
| Contributors | Montpellier 2, Boch, Jérôme |
| Source Sets | Dépôt national des thèses électroniques françaises |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | Electronic Thesis or Dissertation, Text |
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