Technologie FeRAM fiabilité et mécanismes de défaillance de condensateurs ferroélectriques et intégrés /

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Reproduction de : Thèse d'université : Sciences : Physique : Toulon : 2004. / Titre provenant du cadre-titre. Références bibliographiques f. 219-226. Glossaire.

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/492802755
Date	January 2004
Creators	Menou, Nicolas Muller, Christophe
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French