Contrôleurs utilisés dans les systèmes autotestables pour le test des sorties combinatoires ou séquentielles. Conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celle-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir. Les considérations pratiques sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques
Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00319479 |
Date | 14 January 1985 |
Creators | Schreiber Jansch, Ingrid Eleonora |
Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
Language | French |
Detected Language | French |
Type | PhD thesis |
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