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Structural investigation of silicon after ion-implantation using combined x-ray scattering methods

Reproduction de : Thèse de doctorat : Physique des matériaux : Lyon 1 : 2005. Reproduction de : Thèse de doctorat : Physique des matériaux : Université de Turin : 2005. / Thèse soutenue en co-tutelle. Thèse en anglais. Titre provenant de l'écran titre. 129 réf. bibliogr.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/495244480
Date January 2005
CreatorsCapello, Luciana Canut, Bruno Lamberti, Carlo.
PublisherVilleurbanne : Université Claude Bernard],
Source SetsOCLC
LanguageEnglish
Detected LanguageFrench

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